PS Mura不良品质管控体系的研究

• 作者: 任彦夫 刘勤 李玲玉 田静 蒋磊 费雯
• 来源期刊: 大科技
• 学科: 工学
• 关键词: 设计 工艺波动 MS段差 LC量
• 年，卷（期）: 2018,（30）
• 所属期刊栏目: 科技探索与应用
• 页码范围: 323
• 页数: 1页
• 分类号: TN873.93
• 字数: 1720字
• 语种: 中文

摘要

随着市场对高端NB&TPC产品要求越来越高,大尺寸产品分辨率越来越高,越来越轻薄,带来的技术上难点,导致产品出现PS设计,生产工艺波动以及人员作业手法导致发生PS Mura的问题,不仅造成较大的良率Loss,还给产品的品质带来极大风险.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	费雯		3	0	0.0	0.0
2	蒋磊		2	0	0.0	0.0
3	刘勤		3	0	0.0	0.0
4	田静		1	0	0.0	0.0
5	李玲玉		1	0	0.0	0.0
6	任彦夫		1	0	0.0	0.0