电子元器件失效模式影响分析技术

• 作者: 刘扬
• 来源期刊: 电脑迷
• 关键词: 电子技术 元器件 可靠性分析
• 年，卷（期）: 2018,（29）
• 所属期刊栏目: 电子技术
• 页码范围: 92
• 页数: 1页
• 字数: 1710字
• 语种: 中文

摘要

本文主要立足于元器件中进行失效模式影响分析技术研究与应用中,探索合理的元器件失效模式以及机理影响分析技术.在中国首次将机理影响分析技术应用到元器件的基础上,不断进行研究机理影响分析技术软件.研究目的是为了在元器件的研制与应用中,使相关的失效模式及机理得到良好的控制,在最大程度上提高产品的质量与可靠性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘扬		2	0	0.0	0.0