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微芯片爆炸箔起爆器及其平面高压开关研究进展
微芯片爆炸箔起爆器及其平面高压开关研究进展
作者:
张秋
徐聪
朱朋
杨智
沈瑞琪
覃新
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
微芯片爆炸箔起爆系统(McEFIs)
电容放电单元
微芯片爆炸箔起爆器(McEFI)
平面高压开关
研究进展
摘要:
爆炸箔起爆系统(Exploding Foil Initiator system,EFIs)的每一次技术升级都伴随着设计理念和制造工艺的革新,尤其是微机电系统(Micro Electro Mechanical System,MEMS)和低温共烧陶瓷(Low Temperature Co-fired Ceramics,LTCC)工艺,极大地促进了微芯片爆炸箔起爆系统(Micro Chip Exploding Foil Initiator system,McEFIs)的发展.简要分析了两种工艺制备微芯片爆炸箔起爆器(Micro Chip Exploding Foil Initiator,McEFI)的优缺点,列举了几种平面高压开关在电容放电单元(Capacitor Discharge Unit,CDU)中的工作性能,得出了开关的设计思路和研究方法的可行性.基于MEMS工艺和LTCC工艺制备及研究McEFI、平面高压开关和平面高压开关集成McEFI,分别总结了国内外的研究进展.提出了重点研究方向:深入研究MEMS工艺制备McEFI及其平面高压开关,以达到工程化应用;采用LTCC工艺,一体化烧结可制备具有独石结构的平面高压开关和McEFI.
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爆炸箔
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文献信息
篇名
微芯片爆炸箔起爆器及其平面高压开关研究进展
来源期刊
含能材料
学科
工学
关键词
微芯片爆炸箔起爆系统(McEFIs)
电容放电单元
微芯片爆炸箔起爆器(McEFI)
平面高压开关
研究进展
年,卷(期)
2019,(2)
所属期刊栏目
综述
研究方向
页码范围
167-176
页数
10页
分类号
TJ45
字数
7928字
语种
中文
DOI
10.11943/CJEM2018146
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
沈瑞琪
南京理工大学化工学院
171
1017
16.0
20.0
2
杨智
南京理工大学化工学院
18
157
8.0
12.0
3
朱朋
南京理工大学化工学院
30
147
7.0
10.0
4
徐聪
南京理工大学化工学院
5
9
2.0
3.0
5
张秋
南京理工大学化工学院
2
2
1.0
1.0
6
覃新
南京理工大学化工学院
2
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引文网络
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二级引证文献(0)
2019(2)
引证文献(2)
二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
微芯片爆炸箔起爆系统(McEFIs)
电容放电单元
微芯片爆炸箔起爆器(McEFI)
平面高压开关
研究进展
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
含能材料
主办单位:
中国工程物理研究院
出版周期:
月刊
ISSN:
1006-9941
CN:
51-1489/TK
开本:
大16开
出版地:
四川省绵阳市919信箱310分箱
邮发代号:
62-31
创刊时间:
1993
语种:
chi
出版文献量(篇)
3821
总下载数(次)
6
总被引数(次)
23008
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