一种数模转换器的动态闩锁试验方法

• 作者: 姜汝栋 邵振宇
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 互补金属氧化物半导体 集成电路 动态闩锁
• 年，卷（期）: 2019,（2）
• 所属期刊栏目: 微电子制造与可靠性
• 页码范围: 35-37,41
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 字数: 2518字
• 语种: 中文

摘要

CMOS器件结构会引起闩锁效应,国内外目前有相关标准来检测集成电路的抗闩锁能力,但大部分集成电路的闩锁试验都是在电路静态工作下进行试验.该论文根据相关试验标准,结合典型集成电路动态工作情况,研究集成电路的动态闩锁能力.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	姜汝栋	中国电子科技集团公司第五十八研究所	6	5	1.0	1.0
2	邵振宇	中国电子科技集团公司第五十八研究所	2	2	1.0	1.0