方法级别的细粒度软件缺陷定位方法

• 作者: 张文 李自强 杜宇航 杨叶
• 来源期刊: 软件学报
• 学科: 工学
• 关键词: 缺陷报告 MethodLocator 细粒度缺陷定位 方法级别 词向量表示
• 年，卷（期）: 2019,（2）
• 所属期刊栏目: 系统软件与软件工程
• 页码范围: 195-210
• 页数: 16页
• 分类号: TP311
• 字数: 13319字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13328/j.cnki.jos.005565

摘要

当软件缺陷报告在跟踪系统中被指派给开发人员进行缺陷修复之后,缺陷修复人员就需要根据提交的缺陷报告来进行软件缺陷定位,并做出相应的代码变更,以修复该软件缺陷.在缺陷修复的整个过程中,软件缺陷定位占用了开发人员大量的时间.提出了一种方法级别的细粒度软件缺陷定位方法MethodLocator,以提高软件修复人员的工作效率.MethodLocator首先对缺陷报告和源代码方法体利用词向量(word2vec)和TF-IDF结合的方法进行向量表示;然后,根据源代码文件中方法体之间的相似度对方法体进行扩充;最后,通过对扩充后的方法体和缺陷报告计算其余弦距离并排序,来定位为修复软件缺陷所需做出变更的方法.在4个开源软件项目ArgoUML、Ant、Maven 和Kylin上的实验结果表明,MethodLocator方法优于现有的缺陷定位方法,它能够有效地将软件缺陷定位到源代码的方法级别上.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张文	北京化工大学经济管理学院	6	17	2.0	4.0
5	杜宇航	北京化工大学经济管理学院	4	6	2.0	2.0
6	李自强	北京化工大学经济管理学院	3	4	1.0	2.0