深度神经网络硬件基准测试现状及发展趋势

• 作者: 张蔚敏
• 来源期刊: 信息通信技术与政策
• 关键词: 深度神经网络 AI芯片 基准测试
• 年，卷（期）: 2019,（12）
• 所属期刊栏目: 产品与技术方案
• 页码范围: 74-78
• 页数: 5页
• 字数: 2788字
• 语种: 中文

摘要

基准测试作为一种客观的评价方式,在计算机体系架构的发展中扮演着重要的角色,有效地推动着面向不同方向的硬件和软件设计的演进.针对当前深度神经网络处理器的应用场景、发展现状和与通用处理器基准测试差异性进行了分析,给出基准测试参考架构设计,并对深度神经网络处理器基准测试的重要性与所面临的挑战进行了分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张蔚敏		2	12	1.0	2.0