某发射筒端盖密封失效分析

• 作者: 李小慧 杨薛军 林彬 柯贤朝 蔡玄龙
• 来源期刊: 理化检验-物理分册
• 学科: 工学
• 关键词: 发射筒端盖 裂纹 密封性 机械失效
• 年，卷（期）: 2019,（10）
• 所属期刊栏目: 质量控制与失效分析
• 页码范围: 730-732
• 页数: 3页
• 分类号: TB233
• 字数: 2171字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11973/lhjy-wl201910013

摘要

某发射筒端盖在周转过程中出现密封失效,通过理化检验和失效模拟试验等方法,对该端盖密封失效的原因进行了分析.结果表明:端盖外表面在周转过程中受到机械外力作用产生了裂纹,裂纹不断扩展导致泄漏失效;将包装箱内缓冲材料厚度适当增加,使发射筒与缓冲材料的间隙小于1 mm,可有效避免此类失效的发生.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李小慧	上海材料研究所上海市工程材料应用与评价重点实验室	32	112	6.0	9.0
2	柯贤朝	上海材料研究所上海市工程材料应用与评价重点实验室	5	2	1.0	1.0
3	林彬	上海材料研究所上海市工程材料应用与评价重点实验室	4	10	2.0	3.0
4	蔡玄龙	上海材料研究所上海市工程材料应用与评价重点实验室	3	0	0.0	0.0
5	杨薛军		2	0	0.0	0.0