绝缘子表面灰尘颗粒分布

• 作者: 王国志 陈情
• 来源期刊: 中国粉体技术
• 关键词: 瓷棒形支柱绝缘子 DEM-CFD耦合方法 动态积污 颗粒分布
• 年，卷（期）: 2019,（1）
• 所属期刊栏目: 颗粒测试与表征
• 页码范围: 46-51
• 页数: 6页
• 分类号: TM216
• 语种: 中文
• DOI: 10.13732/j.issn.1008-5548.2019.01.008

摘要

为研究绝缘子表面灰尘颗粒径分布状态, 以ZS (W) 35KV/6-8瓷棒形支柱绝缘子为研究对象, 利用DEM-CFD耦合方法模拟绝缘子表面动态积污过程, 使用离散元方法综合分析绝缘子在积污过程中各个表面灰尘颗粒的分布情况.结果表明:灰尘颗粒主要集中在绝缘子迎风面, 背风面较少, 颗粒主要分布在伞裙的上表面、伞棒、下表面凹陷区3个部位, 同时绝缘子表面积污颗粒数随时间的延长而增加, 积污速率基本保持不变;同尺寸的绝缘子, 下表面有凸棱的积污颗粒更多, 凸棱会增大绝缘子的表面积和流场扰动, 容易积污.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王国志	西南交通大学机械工程学院	159	1039	16.0	24.0
2	陈情	西南交通大学机械工程学院	2	0	0.0	0.0