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封装基板阻焊层分层分析与研究
封装基板阻焊层分层分析与研究
作者:
杨建伟
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
超薄层压基板
阻焊层
分层
翘曲
短路
摘要:
封装基板的可靠性对封装产品至关重要.通过对超薄层压基板封装产品的失效实例进行分析研究,确认由于基板阻焊层受应力造成阻焊层与铜层出现分层.经基板分层应力仿真模拟,发现阻焊层的厚度对阻焊层受到的应力影响最明显.增加阻焊层的厚度,可减小阻焊层与铜层之间的应力,解决阻焊层与铜层之间的分层问题,也提高了基板封装产品的可靠性.
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文献信息
篇名
封装基板阻焊层分层分析与研究
来源期刊
电子与封装
学科
工学
关键词
超薄层压基板
阻焊层
分层
翘曲
短路
年,卷(期)
2019,(2)
所属期刊栏目
封装、组装与测试
研究方向
页码范围
1-4,12
页数
5页
分类号
TN305.94
字数
2219字
语种
中文
DOI
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
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1
杨建伟
6
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阻焊层
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研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
主办单位:
中国电子科技集团公司第五十八研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1681-1070
CN:
32-1709/TN
开本:
大16开
出版地:
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
邮发代号:
创刊时间:
2002
语种:
chi
出版文献量(篇)
3006
总下载数(次)
24
总被引数(次)
9543
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