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摘要:
以硫化钨(WS2)饱和溶液为原料,氩气为输运气体,采用化学气相沉积法(CVD)在硅衬底上制备了大面积均匀的硫化钨薄膜。利用X射线衍射和原子力显微镜分析了薄膜的晶体结构及表面形貌,发现该方法生长的WS2薄膜结晶性良好,表面大面积均匀。并利用分光光度计测量了薄膜的光吸收特性,研究发现样品在737 nm附近有很强的光吸收。最后,研究了硫化钨薄膜与硅衬底形成的WS2/Si异质结的I-V特性曲线,发现该异质结器件具有良好的伏安特性;另外,光照下,该异质结在可见光区具有显著的光伏效应,说明可用于制备新型硫化钨二维光电子器件。
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文献信息
篇名 硫化钨薄膜的制备及光电特性研究
来源期刊 纳米技术 学科 工学
关键词 二硫化钨(WS2) 薄膜 化学气相沉积(CVD) 光电特性
年,卷(期) 2019,(3) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 101-106
页数 6页 分类号 TB3
字数 语种
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 马锡英 苏州科技大学数理学院 34 79 6.0 7.0
2 许珂 苏州科技大学数理学院 7 0 0.0 0.0
3 丁馨 苏州科技大学数理学院 4 0 0.0 0.0
4 徐铖 苏州科技大学数理学院 8 0 0.0 0.0
5 朱琳 苏州科技大学数理学院 2 0 0.0 0.0
6 桑雨欣 苏州科技大学数理学院 1 0 0.0 0.0
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研究主题发展历程
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二硫化钨(WS2)
薄膜
化学气相沉积(CVD)
光电特性
研究起点
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引文网络交叉学科
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