一种电路的静态损伤机理分析

• 作者: 肖培磊 阮建新
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 电路电荷放电 组件充电模型 驱动电路 失效分析
• 年，卷（期）: 2019,（1）
• 所属期刊栏目: 微电子制造与可靠性
• 页码范围: 44-47
• 页数: 4页
• 分类号: TN406
• 字数: 2077字
• 语种: 中文

摘要

介绍了电路静态电荷放电的三种模型,并对组件充电模型进行了详细介绍.对电路的失效现象进行分析,失效原因在于电路在组件充电模型下抗静态电荷损伤能力较弱,并提出了新的防电路静态损伤结构来解决组件充电模型下电路防静电能力不足的问题.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	肖培磊	中国电子科技集团公司第五十八研究所	7	8	2.0	2.0
2	阮建新	中国电子科技集团公司第五十八研究所	2	2	1.0	1.0