右删失数据下分位数回归的光滑经验似然检验

• 作者: 何书元 李忠桂
• 来源期刊: 应用概率统计
• 学科: 数学
• 关键词: 分位数回归 右删失 光滑经验似然
• 年，卷（期）: 2019,（2）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 153-164
• 页数: 12页
• 分类号: O212.1
• 字数: 6031字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-4268.2019.02.004

摘要

关于线性分位数回归模型的参数检验问题,对完全观测数据,已有文献用经验似然(EL)法和光滑经验似然(SEL)法构造的检验统计量在原假设下均以卡方分布x2M为渐近分布.对右删失数据,已有文献用EL法构造的检验统计量以加权卡方分布为渐近分布,而权重是待估的.对右删失数据,本文用EL法和SEL法构造的检验统计量在原假设下均依分布收敛到x2M,因此无需估计权重.由于SEL法的估计函数是光滑的,故可以进行Bartlett纠偏.随机模拟结果表明与已有的方法相比,SEL法经过Bartlett纠偏后有更高的精度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何书元	首都师范大学数学科学学院	5	4	1.0	1.0
2	李忠桂	首都师范大学数学科学学院	2	2	1.0	1.0