电缆绝缘层结构测试仪校准方法的研究

• 作者: 刘亚俊 管锡良 陈磊 黄长彪
• 来源期刊: 计量技术
• 关键词: 绝缘层结构 图像处理 尺寸测量 标准圆环 不确定度分析
• 年，卷（期）: 2019,（2）
• 页码范围: 43-45,65
• 页数: 4页
• 字数: 2527字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0771.2019.02.12

摘要

电缆绝缘层结构测试仪用于电缆绝缘层厚度等结构尺寸的快速测量,精度高,可取代传统的光学投影仪.仪器量值溯源没有相关的技术依据可参照执行,本文重点分析了仪器的结构、原理及测量精度,并研究了相应的校准方法,对校准结果进行了不确定度分析,可满足仪器量值溯源的要求,保证了测试仪测量结果的准确度.