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电子产品可靠性与环境试验期刊
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基于COB工艺的白光LED数码管的寿命评估
基于COB工艺的白光LED数码管的寿命评估
作者:
曾友华
原文服务方:
电子产品可靠性与环境试验
白光LED数码管
COB工艺
光通量
加速老化
威布尔分布模型
寿命
摘要:
采用点胶技术,制备了一种基于COB工艺的白光LED数码管.在通电3 mA/LED的条件下,对样品分别进行了65、85、105℃3种温度应力水平下的加速老化寿命试验,利用亚玛卡西LED光功率衰减模型公式,以光通量衰减50%作为失效判据,计算出退化系数和产品的失效时间,使用威布尔分布描述产品的寿命分布,利用最小二乘法和阿伦尼斯模型方程对试验数据进行统计分析,最终计算得到:在通电3 mA/LED的条件下,室温(25℃)下产品的特征寿命分别是:148995 h、130664 h、142616 h,结果比较接近,验证有效.提出的数码管寿命的评估方法,可以缩短试验时间,节省评估成本,对于同类产品的寿命评估具有一定的借鉴意义.
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文献信息
篇名
基于COB工艺的白光LED数码管的寿命评估
来源期刊
电子产品可靠性与环境试验
学科
关键词
白光LED数码管
COB工艺
光通量
加速老化
威布尔分布模型
寿命
年,卷(期)
2019,(2)
所属期刊栏目
可靠性与环境适应性理论研究
研究方向
页码范围
12-16
页数
5页
分类号
TB114.35
字数
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1672-5468.2019.02.003
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
曾友华
1
0
0.0
0.0
传播情况
被引次数趋势
(/次)
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版权信息
全文
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引文网络
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研究主题发展历程
节点文献
白光LED数码管
COB工艺
光通量
加速老化
威布尔分布模型
寿命
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
主办单位:
工业和信息化部电子第五研究所(中国电子产品可靠性与环境试验研究所)
出版周期:
双月刊
ISSN:
1672-5468
CN:
44-1412/TN
开本:
大16开
出版地:
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
邮发代号:
创刊时间:
1962-01-01
语种:
中文
出版文献量(篇)
2803
总下载数(次)
0
总被引数(次)
9369
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