相控阵双全法改善缺陷表征

• 作者: 李衍
• 来源期刊: 江苏锅炉
• 学科: 工学
• 关键词: 超声相控阵检测(PAUT) 全矩阵捕获(FMC) 全聚焦法(TFM) 缺陷表征 成像质量改善
• 年，卷（期）: jsgl,（2）
• 页码范围: 55-61
• 页数: 7页
• 分类号: TB302.5

摘要

与常规技术相比,相控阵超声检测(PAUT)优势凸现:速度快,可靠性好,灵敏度高,分辨力优。应对复杂检测,PAUT总是首选技术。随着计算功效强化,新一代超声设备管控大数据能力优化,“双全”法一一全矩阵捕获(FMC)和全聚焦法(TFM)等先进成像技术应运而生。结合标准许可的方法使用,这些技术可使缺陷表征大为改善。本文即论证相控阵检测与先进成像法相结合,如何为UT日常应用,强化缺陷表征过程。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李衍	无锡市锅炉压力容器学会无损检测专委会	78	1	1.0	1.0