激光测厚技术在液晶玻璃基板生产中的应用

• 作者: 何怀胜 姚文龙 李飞 杨道辉
• 来源期刊: 玻璃
• 学科: 工学
• 关键词: 液晶基板 玻璃厚度 激光测厚 品质提升
• 年，卷（期）: 2019,（1）
• 所属期刊栏目: 玻璃深加工
• 页码范围: 46-48
• 页数: 3页
• 分类号: TQ171.6
• 字数: 2163字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-1987.2019.01.009

摘要

在液晶玻璃生产过程中,采用激光测厚技术不仅可以大幅度提高玻璃基板品质厚度的测量频率,实现每片基板玻璃厚度一次测量;同时也能反映玻璃基板品质厚度实时的真实性,加快厚度异常对策效率,而且能有力的推动我国光电产业技术及玻璃基板品质的提升.以玻璃基板厚度为研究对象,对激光测厚系统在液晶玻璃基板中的应用进行分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何怀胜		14	6	2.0	2.0
2	杨道辉		5	4	2.0	2.0
3	姚文龙		3	0	0.0	0.0
4	李飞		3	0	0.0	0.0