适用于5GOTA射频测试的动态赋形紧缩场研究及其应用

• 作者: 任宇鑫 孙浩 宫剑 张翔 李雷 魏贵明
• 来源期刊: 信息通信技术与政策
• 关键词: 动态赋形紧缩场 平面波 射频指标 OTA 5G
• 年，卷（期）: 2019,（8）
• 所属期刊栏目: 专题:面向5G预商用研究
• 页码范围: 17-21
• 页数: 5页
• 字数: 2992字
• 语种: 中文

摘要

由于5G引入大规模天线Massive MIMO和毫米波技术,4G时期采用传导测试的方式已经无法满足5G基站测试需要,因此5G基站射频指标测试转向采用OTA空口测试方法.本文在分析大型紧缩场测试方法的基础上,介绍了一种能够支持Sub6GHz 5G基站测试的小型化、低成本的新方法,即动态赋形紧缩场的测试方法.通过从原理到实际验证的阐述,说明该方法能够满足3GPP规范要求的全部5G基站射频指标测试,能够大幅降低场地要求和构建成本,显著提升测试效率,为5G基站测试提供一种全新的测试解决方案.该方案已经在3GPP RAN4#90B会议上一致通过,并将写入TR 37.843测试规范中.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	魏贵明	中国信息通信研究院技术与标准研究所无线与移动研究部	6	4	1.0	2.0
2	李雷	中国信息通信研究院技术与标准研究所无线与移动研究部	4	10	2.0	3.0
3	张翔	中国信息通信研究院技术与标准研究所无线与移动研究部	5	4	1.0	2.0
4	任宇鑫	中国信息通信研究院技术与标准研究所无线与移动研究部	6	9	2.0	2.0
5	孙浩		5	5	1.0	2.0
6	宫剑	国家无线电监测中心检测中心	6	6	1.0	2.0