复合绝缘子憎水特性与其微观特性的对应关系

• 作者: 刘玉婷 周东 房子祎 晏年平 贾志东 陈灿
• 来源期刊: 高电压技术
• 关键词: 复合绝缘子 憎水特性 傅里叶红外光谱 X射线光电子能谱 X射线衍射
• 年，卷（期）: 2019,（6）
• 所属期刊栏目: 电介质与电气绝缘
• 页码范围: 1745-1753
• 页数: 9页
• 语种: 中文
• DOI: 10.13336/j.1003-6520.hve.20190604009

摘要

为研究复合绝缘子憎水特性与其微观特性的对应关系,选取江西电网4串线路复合绝缘子进行憎水性及憎水性迁移试验,采用傅里叶变换红外光谱(FTIR)、X射线光电子能谱(XPS)以及X射线衍射(XRD)等微观分析技术,研究了绝缘子表面元素含量及化合态以及微观结构变化情况.研究发现,表面粉化严重的绝缘子保持较高的静态接触角,与其粉化后表面粗糙度上升密切相关;静态接触角不能作为评估粗糙表面憎水性的唯一依据,应结合绝缘子表面是否保持有足够含量的憎水性基团进行评估.复合绝缘子憎水迁移性能优劣与其表层是否存在硅氧烷XRD衍射峰具有良好的对应关系,建议测量复合绝缘子表层是否存在硅氧烷XRD衍射峰,判断其憎水迁移性能否满足继续运行要求.