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摘要:
LTCC基板在有源相控阵天线瓦片式TR组件中,不仅具有电路功能,还具有结构支撑作用.Ferro基板由于材料本身的多孔结构,在压力作用下,表层一定厚度内吸附大量气体,但是这种表面吸附气体的行为并不影响密闭腔体内芯片组装的可靠性.使用Au80Sn20、Sn3.0Ag0.5Cu、Sn63Pb37三种焊料进行组件的气密性封装,无论是初始状态还是加速寿命试验后,三种焊料的气密性表现都满足标准的相关要求,但Sn基焊料产生大量的IMC,并且在时效过程中很容易产生柯肯达尔空洞,容易在界面处产生裂纹,影响气密性,因此,需要对镀层的成分、厚度等关键参数进行合理的优化控制.
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文献信息
篇名 有源相控阵天线瓦片式T/R组件焊料气密性研究
来源期刊 电子工艺技术 学科 工学
关键词 瓦片式结构 有源相控阵天线 LTCC基板 气密性
年,卷(期) 2019,(6) 所属期刊栏目 微组装技术 SMT PCB
研究方向 页码范围 324-327
页数 4页 分类号 TN605
字数 2168字 语种 中文
DOI 10.14176/j.issn.1001-3474.2019.06.005
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王杰 中国电子科技集团公司第五十四研究所 14 48 4.0 6.0
2 杨宗亮 5 16 2.0 4.0
3 赵飞 中国电子科技集团公司第五十四研究所 25 77 5.0 7.0
4 王康 中国电子科技集团公司第五十四研究所 5 6 2.0 2.0
5 刘慧荣 3 3 1.0 1.0
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研究主题发展历程
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瓦片式结构
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LTCC基板
气密性
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电子工艺技术
双月刊
1001-3474
14-1136/TN
大16开
太原市115信箱
22-52
1980
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