110 GHz可溯源的On-wafer GaAs基Multi-TRL校准标准件研制

• 作者: 刘欣萌 袁思昊 黄辉
• 来源期刊: 计量学报
• 学科: 工学
• 关键词: 计量学 共面波导 W波段 On-wafer 砷化镓 Multi-TRL校准件 散射参数
• 年，卷（期）: 2019,（5）
• 页码范围: 760-764
• 页数: 5页
• 分类号: TB973
• 字数: 2512字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-1158.2019.05.03

摘要

设计制作了用于1～ 110 GHz On-wafer散射参数测试系统自校准的GaAs基Multi-TRL校准标准件.主要验证了Multi-TRL校准标准件设计的正确性;经过与国外计量标准及商用校准件比对,还验证了在频率范围1 GHz～ 110 GHz,用于Multi-TRL校准的校准标准件的准确性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘欣萌		6	18	2.0	4.0
2	黄辉		3	2	1.0	1.0
3	袁思昊		1	2	1.0	1.0