原文服务方: 绝缘材料       
摘要:
绝缘子表面电荷积聚是制约直流气体绝缘输电线路(DC-GIL)发展的主要因素之一.针对目前表面电荷的产生、输运、积聚和消散机理的相关研究还存在较多不足之处.本文从表面电荷积聚机制、离子流场理论模型、表面态物理化学结构及其影响因素、SF6气体空间中的离子种类以及电场强度和环境等对气体离子输运参数的影响等方面综述了直流GIL绝缘子表面电荷积聚机理研究的局限性和对策,并从固-气界面动态分析、环境友好替代气体在直流GIL中的应用等方面对未来直流GIL绝缘子表面电荷研究的重点进行了展望.
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文献信息
篇名 直流GIL绝缘子表面电荷研究现状与展望
来源期刊 绝缘材料 学科
关键词 直流输电 气体绝缘输电线路 表面电荷积聚 离子流场 表面态物理 环境友好气体
年,卷(期) 2019,(6) 所属期刊栏目 综述
研究方向 页码范围 1-7
页数 7页 分类号 TM216
字数 语种 中文
DOI 10.16790/j.cnki.1009-9239.im.2019.06.001
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绝缘材料
月刊
1009-9239
45-1287/TM
大16开
1966-01-01
chi
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2892
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19598
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