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Enhancing Controllability Robustness of q-Snapback Networks through Redirecting Edges
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摘要：
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Snapback应力引起的90 nm NMOSFET's栅氧化层损伤研究
突发击穿
软击穿
应力引起的泄漏电流
热电子应力
NMOS管Snapback特性ESD仿真模型研究
NMOS
snapback
ESD
模型
HICUM
Mextram
VBIC
Snapback应力对90nm nMOSFET栅氧化层完整性的影响
突发击穿
三代电子
应力引起的泄漏电流
击穿电荷
氧化层陷阱
The effect of pH on the sorption of gold nanoparticles on illite
Gold nanoparticles
Illite
Sorption
Charge
Electrostatic interaction
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