微波与热偏置下超导HEB太赫兹直接检测器的性能比较

• 作者: 吴培亨 张一頔 苏润丰 陈健
• 来源期刊: 低温物理学报
• 关键词: 太赫兹 超导热电子测辐射热计 噪声等效功率 热偏置 微波偏置
• 年，卷（期）: 2019,（2）
• 页码范围: 123-128
• 页数: 6页
• 语种: 中文
• DOI: 10.13380/j.ltpl.2019.02.007

摘要

本文介绍了一种基于超导氮化铌(NbN)热电子测辐射热计(HEB)的太赫兹(THz)直接检测器,并利用直流读出法和微波反射读出法,对微波与热偏置下HEB直接检测器的性能进行了比较.通过直流读出法,在最佳工作点处,测得微波偏置与热偏置条件下检测器的电流响应率分别为244 A/W和20 A/W,光学噪声等效功率(NEP)分别为4.5 pW/√Hz和6.8 pW/√Hz.相比于热偏置,微波偏置能够大大提高检测器的响应率.此外,我们利用微波反射读出法对微波偏置和热偏置下检测器的性能进行了比较.两种读出方式均可很好的表征检测器的性能,而相比于直流读出法,微波反射读出法更易于扩展到多像素阵列,同时具有很快的读出速度,对快速THz脉冲信号的检测具有重要意义.