受激发射损耗显微超分辨成像技术在免疫突触中的研究进展

• 作者: 冯继宏 张硕晨 朱书缘 高辛未 黄珊
• 来源期刊: 北京生物医学工程
• 学科: 医学
• 关键词: 自然杀伤细胞 免疫突触 受激发射损耗显微镜 荧光探针 生物芯片
• 年，卷（期）: 2019,（5）
• 所属期刊栏目: 综述
• 页码范围: 530-534
• 页数: 5页
• 分类号: R318.04
• 字数: 4178字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-3208.2019.05.016

摘要

由于光学衍射的限制,传统光学显微镜只能看到免疫突触(immunological synapse,IS)(>200 nm)的轮廓,因此在观察嵌合抗原受体(chimeric antigen receptor,CAR)修饰的自然杀伤(native killer,NK)细胞靶向杀伤肿瘤细胞时,NK细胞的IS形成过程中会丢掉很多信息.受激发射损耗(stimulated emission depletion,STED)显微镜的出现为IS的研究提供了有力工具.本文概述了STED超分辨成像技术的基本原理,分析了成像过程中的技术难点,介绍了在IS领域中与STED成像技术结合使用的荧光探针、生物芯片的研究新进展,探讨并展望了STED超分辨显微技术在IS研究领域的意义和未来发展方向.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	冯继宏	北京工业大学生命科学与生物工程学院	16	55	5.0	7.0
2	高辛未	北京工业大学生命科学与生物工程学院	4	2	1.0	1.0
3	张硕晨	北京工业大学生命科学与生物工程学院	3	2	1.0	1.0
4	黄珊	北京工业大学生命科学与生物工程学院	1	0	0.0	0.0
5	朱书缘	北京工业大学生命科学与生物工程学院	1	0	0.0	0.0