直链烷烃在质子转移反应质谱中的裂解规律研究

• 作者: 刘海培 孙传强 孙运 杨茹 汪曣 蒋学慧
• 来源期刊: 分析化学
• 关键词: 质子转移 质子转移反应质谱 直链烷烃 碎片离子
• 年，卷（期）: 2019,（9）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 1359-1365,中插3-中插4
• 页数: 8页
• 字数: 6944字
• 语种: 中文
• DOI: 10.19756/j.issn.0253-3820.191221

摘要

通过自制的液体进样装置,利用质子转移反应质谱(Proton-transfer-reaction mass spectrometry,PTR-MS)对10种直链烷烃(C6～C15)的高纯标准品进行了检测.实验结果表明,直链烷烃在PTR-MS中与H3 O+反应产生了碎片离子,其分布特征类似于电子轰击源(Electron ionization,EI).质谱分析表明,主要裂解产物为一系列[CiH2i+1]+、[CiH2i-1]+和[CiH2i-3]+(i≥3)离子.实验中未观测到质子化离子[M+H]+,而[M-H]+离子和其它碎片离子的出现,表明直链烷烃的质子化离子形成后即发生脱氢或者直接裂解.研究还发现,碎片离子的相对丰度受E/N(E为电场强度,N为气体分子数密度)值的影响较大.在80～170 Td范围内,随着E/N值升高,质荷比较大的碎片离子的相对丰度率先降低,直至信号低于检出限而无法被检测;质荷比较小的碎片离子(如[C4H9]+(m/z 57)、[C3H7]+(m/z 43)等)的相对丰度呈现先升高后降低的趋势,而碎片离子[C3H5]+(m/z 41)的相对丰度一直呈上升趋势.实验结果表明,较大质荷比的碎片离子在高E/N值条件下会发生二次裂解,逐级生成质荷比更小的碎片离子.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	汪曣	天津大学精密仪器与光电子工程学院	89	856	16.0	27.0
2	孙运	天津大学精密仪器与光电子工程学院	5	9	2.0	3.0
3	刘海培	天津大学精密仪器与光电子工程学院	3	2	1.0	1.0
4	蒋学慧	天津大学精密仪器与光电子工程学院	16	40	4.0	5.0
5	杨茹	天津大学精密仪器与光电子工程学院	4	4	1.0	2.0
6	孙传强		1	0	0.0	0.0