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摘要:
对贮氢压力系统,基于氦质谱仪的氢检测模式,提出了采用系统自带氢气作为示踪气体的氢质谱检漏方法.为验证该方法的有效性,开展了低漏率通道型漏孔研制,通过金属毛细管挤压、固定的方式制作了常压下氦漏率在10-6~10-8 Pa·m3/s量级范围的通道型漏孔,采用氦质谱检漏技术监测了部分漏孔漏率随时间变化情况,监测结果表明,该方法可以制备漏率稳定的漏孔.基于研制漏孔,利用质谱仪的氢、氦检测模式获得了对应氢、氦示踪介质的漏率.通过对氢、氦漏率值的对比分析发现:当漏孔氦漏率在10-7 Pa·m3/s量级及以上时,氢模式下的氢漏率稳定,约为氦检漏模式下氦漏率的2~5倍;但随着漏孔漏率进一步减小,采用现有质谱仪的氢检测模式将无法获得有效漏率值.
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文献信息
篇名 贮氢压力系统氢介质检漏方法研究
来源期刊 压力容器 学科 工学
关键词 质谱仪 氦质谱检漏 标准漏孔 贮氢压力系统
年,卷(期) 2019,(2) 所属期刊栏目 试验研究
研究方向 页码范围 1-5
页数 5页 分类号 TH49|TB774
字数 3402字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-4837.2019.02.001
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 丰杰 中国工程物理研究院总体工程研究所 23 116 7.0 9.0
2 王莹 中国工程物理研究院总体工程研究所 4 18 2.0 4.0
3 王小娟 中国工程物理研究院总体工程研究所 1 2 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
质谱仪
氦质谱检漏
标准漏孔
贮氢压力系统
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
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相关学者/机构
期刊影响力
压力容器
月刊
1001-4837
34-1058/TH
大16开
安徽省合肥市高新开发区天湖路29号
26-10
1984
chi
出版文献量(篇)
3586
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3
总被引数(次)
28333
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