车载TFT LCD器件高温信赖性串扰机理及改善研究

• 作者: 刘旭 孟佳 李兴华 杨小飞 牟勋 苏磊
• 来源期刊: 光电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 车载 液晶显示器 高温 串扰
• 年，卷（期）: 2019,（2）
• 所属期刊栏目: 研究与试制
• 页码范围: 123-126
• 页数: 4页
• 分类号: TN27
• 语种: 中文
• DOI: 10.19453/j.cnki.1005-488x.2019.02.011

摘要

研究了车载液晶显示器可靠性试验中高温串扰的相关影响因子,通过实验发现TFT沟道N+台阶越大,高温串扰表现越差,通过增加工艺中灰化时间可以改善沟道台阶问题.同时栅极绝缘层的厚度也会对可靠性评价中的高温串扰产生影响.并且通过DOE实验确定可靠性串扰的显著影响因子为沟道N+台阶和栅绝缘层厚度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李兴华		5	8	2.0	2.0
2	杨小飞		2	0	0.0	0.0
3	刘旭		3	0	0.0	0.0
4	牟勋		2	0	0.0	0.0
5	苏磊		1	0	0.0	0.0
6	孟佳		1	0	0.0	0.0