基于线阵CCD的直线位移测量仪的研究

• 作者: 张广鹏 黄健
• 来源期刊: 光学技术
• 学科: 工学
• 关键词: 直线位移 线性CCD 无接触测量
• 年，卷（期）: 2019,（6）
• 所属期刊栏目: 光学测量
• 页码范围: 677-682
• 页数: 6页
• 分类号: TH7
• 语种: 中文

摘要

为实现精密测量移动物体的直线位移,解决现有直线测量技术中量程和精度无法兼顾的难题,克服现有测量技术复杂、加工难度大等缺点,提出一种新型无接触测量技术,用线性CCD连续采集128个像素点,测量移动物体的位置.在普通白炽光的照射下,背景色为白色,这时128个像素点的采集值基本相同.当黑色物体沿直线移动到镜头范围内时,128个像素点的采集值将会发生显著的变化,找到这些变化点,并用动态阈值算法计算出移动物体的位置.搭建了相应的测量系统,实验结果表明,系统的测量精度可达到0.5mm,具有精度高、成本低、易安装等优点.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄健	西安理工大学机械与精密仪器工程学院	36	88	5.0	7.0
3	张广鹏	西安理工大学机械与精密仪器工程学院	62	803	13.0	27.0