SIMS含铀微粒同位素比分析中多原子离子影响及消除方法研究

• 作者: 张燕 沈彦 王同兴 王琛 赵永刚
• 来源期刊: 原子能科学技术
• 关键词: SIMS 微粒分析 多原子离子 含铀微粒
• 年，卷（期）: 2019,（4）
• 所属期刊栏目: 化学
• 页码范围: 585-593
• 页数: 9页
• 分类号: TL25
• 语种: 中文
• DOI: 10.7538/yzk.2018.youxian.0417

摘要

实际环境样品基体成分十分复杂,多原子离子对二次离子质谱(SIMS)单微粒铀同位素比分析的影响不可忽略.本文实验分析了Pb、Ni、Zn、Si的多原子离子在SIMS单微粒铀同位素比分析中的干扰,并分别采用提高质量分辨率以及根据核素离子强度扣除其多原子离子的方法对结果进行校正.结果表明:Pb和Ni的多原子离子会影响含铀微粒次同位素比的测量,对铀主同位素比的影响可忽略;Zn和Si的多原子离子对铀主、次同位素比测量均基本无影响.将质量分辨率提高至800,能完全消除Ni多原子离子的影响,Ni-CRM U030混合(Ni粉混合CRM U030)微粒234U/238U同位素比测量值与参考值之间的相对偏差基本好于5％,236U/238U同位素比测量值与参考值之间的相对偏差基本好于15％;Pb多原子离子干扰无法通过提高质量分辨率进行消除,根据Pb离子强度扣除其多原子离子后,Pb-CRM U030混合微粒的234U/238U同位素比测量值与参考值之间的相对偏差基本好于10％,236U/238U同位素比测量值与参考值之间的相对偏差基本好于50％.将以上消除干扰的方法应用于真实样品分析,结果表明,其有效消除了多原子离子带来的干扰.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王同兴	中国原子能科学研究院放射化学研究所	17	37	3.0	5.0
2	赵永刚	中国原子能科学研究院放射化学研究所	51	122	7.0	9.0
3	张燕	中国原子能科学研究院放射化学研究所	16	7	1.0	1.0
4	王琛	中国原子能科学研究院放射化学研究所	10	23	3.0	4.0
5	沈彦	中国原子能科学研究院放射化学研究所	9	3	1.0	1.0