基于偏振光谱的便携式稻种快速发芽率检测仪

• 作者: 卢伟 王新宇 郭阳鸣
• 来源期刊: 测控技术
• 学科: 工学
• 关键词: STM32 稻种发芽率 偏振光谱 无损检测
• 年，卷（期）: 2019,（1）
• 所属期刊栏目: 智能感知与仪器仪表
• 页码范围: 89-92
• 页数: 4页
• 分类号: TP274+.2
• 字数: 2316字
• 语种: 中文
• DOI: 10.19708/j.ckjs.2019.01.019

摘要

针对目前传统稻种发芽率传统检测方法周期长、过程烦琐等问题,研发了一种基于STM32单片机和偏振光谱的便携式稻种快速发芽率检测仪,其由多光谱光源、凸透镜、起偏器、样品池、检偏器、光电传感器、显示屏、STM32单片机及检测电路等组成.其中,光束经多光谱光源发出后,经过凹面镜和凸透镜聚焦准直,穿过起偏器照射到样品池内的稻种浸泡液上,由于不同老化程度的稻种在浸泡过程中渗入浸泡液内的物质数量不同,光束在经过检偏器后具有显著的光谱特性,最后基于偏振光的强弱建立稻种发芽率的模型.实验表明,该仪器可进行多种稻种的发芽率预测,预测精度达到90％以上.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	卢伟	南京农业大学工学院	38	177	8.0	12.0
3	王新宇	南京农业大学工学院	3	2	1.0	1.0
7	郭阳鸣	南京农业大学工学院	2	2	1.0	1.0