测试总线的发展与展望

• 作者: 于雷 朱利文 金传喜
• 来源期刊: 现代防御技术
• 学科: 工学
• 关键词: 测试总线 自动测试系统 GPIB VXI PXI PXIe LXI AXIe
• 年，卷（期）: 2019,（1）
• 所属期刊栏目: 测试、发控技术
• 页码范围: 151-161
• 页数: 11页
• 分类号: TM93|TP336
• 字数: 6559字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-086x.2019.01.23

摘要

测试总线是自动测试系统中控制器与仪器模块之间、仪器模块与仪器模块之间、系统与系统之间的信息通道,在自动测试系统中占据重要地位.随着测试总线技术的不断发展,先后出现了GPIB,VXI,PXI,PXIe,LXI和AXIe等测试总线标准.对测试总线的发展历程进行了回顾,对六种测试总线的特点和应用进行了总结,并比较了不同测试总线的性能,重点对测试总线的未来发展方向进行了分析与展望.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	于雷	海军工程大学核科学技术学院	82	377	11.0	14.0
2	金传喜	海军工程大学核科学技术学院	14	26	3.0	4.0
3	朱利文	海军工程大学核科学技术学院	6	3	1.0	1.0