FFS液晶显示模式下残像的非对称电压补偿研究

• 作者: 傅炯樑 夏志强 时成瑛 王一明 秦丹丹 蔡敏
• 来源期刊: 光电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 残像 边缘场切换技术 挠曲电效应
• 年，卷（期）: 2019,（4）
• 所属期刊栏目: 研究与试制
• 页码范围: 285-288
• 页数: 4页
• 分类号: TN141.9
• 语种: 中文
• DOI: 10.19453/j.cnki.1005-488x.2019.04.013

摘要

通过非对称电压补偿方法研究了FFS模式下的残像现象.实验结果表明在不更换盒内材料的情况下,非对称电压补偿可以快速有效地改善残像问题.同时研究了不同的材料、不同的像素结构对应的实际补偿电压.结果 显示随着配向膜电阻的增加,补偿电压有增大趋势(0.1V到0.3V),正负性液晶以及不同像素结构(公共电极层分别位于最上层和中间层,Top/Mid com)呈相反趋势(+0.3V和-0.3 V),且不同于以往的研究,最终的残像结果负性液晶好于正性液晶.不同的彩膜平坦化层材料对应的补偿电压也有较明显差异.研究为FFS液晶显示模式残像的快速改善提供了参考.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	时成瑛		1	0	0.0	0.0
2	蔡敏		1	0	0.0	0.0
3	傅炯樑		1	0	0.0	0.0
4	王一明		1	0	0.0	0.0
5	秦丹丹		1	0	0.0	0.0
6	夏志强		1	0	0.0	0.0