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摘要:
为了验证物理不可克隆函数(Physical Unclonable Function,PUF)的有效性,试验必须针对大量芯片的微延迟特性进行建模.尽管仿真的方式能够提供近似的结果,但通过片上试验能获得更加精确的结果.借助FPGA工具制造硬宏,在多块同型号FPGA上分析了基于环形振荡器(RingOscillator,RO)的物理不可克隆函数.其核心步骤是通过对相邻RO的振荡频率计数后相互比较,得到1024比特长度的响应输出.在多次试验测试后,得到了片内和片间汉明距,并作为PUF性能的指标参数——唯一性、可靠性.结果 表明,常温下的平均唯一性为48.01%,平均可靠性为1.75%.
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文献信息
篇名 基于环形振荡器的物理不可克隆函数的设计与验证
来源期刊 电子与封装 学科 工学
关键词 物理不可克隆函数 环形振荡器 唯一性 可靠性
年,卷(期) 2019,(7) 所属期刊栏目 电路设计
研究方向 页码范围 33-36
页数 4页 分类号 TN402
字数 3132字 语种 中文
DOI 10.16257/j.cnki.1681-1070.2019.0709
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 魏敬和 中国电子科技集团公司第五十八研究所 69 261 7.0 13.0
2 张荣 中国电子科技集团公司第五十八研究所 15 22 2.0 4.0
3 胡鹏 中国电子科技集团公司第五十八研究所 9 4 1.0 1.0
4 魏江杰 中国电子科技集团公司第五十八研究所 1 0 0.0 0.0
5 周昱 中国电子科技集团公司第五十八研究所 6 16 2.0 4.0
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研究主题发展历程
节点文献
物理不可克隆函数
环形振荡器
唯一性
可靠性
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
月刊
1681-1070
32-1709/TN
大16开
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
2002
chi
出版文献量(篇)
3006
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