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摘要:
针对2T2C铁电存储单元读写电路进行了单粒子翻转效应的仿真模拟,研究了单粒子入射读写电路的不同敏感节点对存储数据的影响,并分析了数据读写出错的内在机制.结果表明:单粒子入射存储阵列中的字线晶体管时,存储数据未发生翻转,这主要是因为铁电电容极化信息波动后又恢复至原状态;单粒子入射外围电路中的板线激发器和灵敏放大器时,存储数据发生了翻转,这主要是因为外围电路产生的单粒子瞬态脉冲造成数据读出出错,进而导致了回写数据翻转.
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文献信息
篇名 2T2C铁电存储单元读写电路的单粒子翻转效应研究
来源期刊 湘潭大学自然科学学报 学科 工学
关键词 铁电存储单元 单粒子翻转 单粒子瞬态脉冲
年,卷(期) 2019,(4) 所属期刊栏目 低维铁电材料与器件
研究方向 页码范围 76-83
页数 8页 分类号 TN4
字数 3608字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王金斌 湘潭大学材料科学与工程学院 37 88 5.0 8.0
2 钟向丽 湘潭大学材料科学与工程学院 25 30 3.0 5.0
3 李波 湘潭大学材料科学与工程学院 11 2 1.0 1.0
4 高占占 湘潭大学材料科学与工程学院 3 1 1.0 1.0
5 侯鹏飞 湘潭大学材料科学与工程学院 8 1 1.0 1.0
6 宋宏甲 湘潭大学材料科学与工程学院 10 2 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
铁电存储单元
单粒子翻转
单粒子瞬态脉冲
研究起点
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引文网络交叉学科
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期刊影响力
湘潭大学自然科学学报
双月刊
1000-5900
43-1066/TN
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