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摘要:
在高速集成电路测试中,阻抗不连续会影响集成电路信号传输的特性.介绍了一种利用自动测试仪实现阻抗测试的方法,首先介绍传输线理论并说明阻抗产生的原理,结合电路仿真确定阻抗测试方案,利用自动测试仪产生阶跃信号,并检测反射信号的波形得到传输线的阻抗特性,从而为集成电路测试提供有效的分析依据.
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文献信息
篇名 基于自动测试仪的阻抗测试方法
来源期刊 电子与封装 学科 工学
关键词 阻抗 自动测试仪 集成电路测试
年,卷(期) 2019,(7) 所属期刊栏目 封装、组装与测试
研究方向 页码范围 13-15
页数 3页 分类号 TN407
字数 1742字 语种 中文
DOI 10.16257/j.cnki.1681-1070.2019.0704
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 杨婷 中国电子科技集团公司第五十四研究所 14 6 2.0 2.0
2 崔海龙 中国电子科技集团公司第五十四研究所 6 3 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
阻抗
自动测试仪
集成电路测试
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
月刊
1681-1070
32-1709/TN
大16开
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
2002
chi
出版文献量(篇)
3006
总下载数(次)
24
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