微波集成电路的低频噪声测试方法

• 作者: 何亮 贾晓菲
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 微波电路 功率谱密度 噪声测试 1/f噪声 功率放大器
• 年，卷（期）: 2019,（2）
• 所属期刊栏目: 半导体检测与设备
• 页码范围: 140-144
• 页数: 5页
• 分类号: TN407
• 语种: 中文
• DOI: 10.13290/j.cnki.bdtjs.2019.02.011

摘要

噪声检测是小型化微波集成电路可靠性诊断的一种无损检测手段,针对GaAs PHEMT单片微波集成电路(MMIC)功率放大器的可靠性问题,进行了噪声测试实验,研究了其低频噪声的测试方法.分析了合格与失效电路的噪声功率谱密度和时间序列,并提取GaAs PHEMTMMIC功率放大器1/f噪声的幅度值、噪声指数和转折频率.测试结果表明,MMIC功率放大器的噪声主要为1/f噪声和热噪声.从噪声功率谱密度来看,失效电路的噪声比合格电路的噪声大;从时间序列来看,失效与合格电路的噪声谱幅值不同,失效电路的噪声谱幅值变化无规律且为爆裂噪声,合格电路的噪声谱幅值变化有规律且主要是1/f噪声;从噪声参量提取来看,1/f噪声的幅度值、噪声指数和转折频率均可作为噪声的表征参量.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何亮	西安电子科技大学先进材料与纳米科技学院	36	212	7.0	14.0
2	贾晓菲	安康学院电子与信息工程学院	8	4	1.0	2.0