活化温度对石墨烯/碳纳米片电容的影响

• 作者: 孟凡腾 张世超 方华 王利霞
• 来源期刊: 电池
• 学科: 工学
• 关键词: 石墨烯 多孔碳 纳米片 KOH活化 超级电容器
• 年，卷（期）: 2019,（3）
• 所属期刊栏目: 科研论文
• 页码范围: 191-194
• 页数: 4页
• 分类号: TM533
• 字数: 3403字
• 语种: 中文
• DOI: 10.19535/j.1001-1579.2019.03.003

摘要

以原位合成的酚醛树脂为碳源、氧化石墨烯片为形貌导向剂,制备石墨烯/碳纳米片,再在500℃、600℃、700℃和800℃下进行KOH活化,探究活化温度对电容性能的影响.用XRD、SEM、拉曼光谱和低温N2吸脱附实验对样品进行分析,用恒流充放电与循环伏安法进行电化学性能测试.KOH活化不会破坏碳纳米片形貌,提高活化温度,可增加活化样品的比表面积和孔容;随着活化温度的提高,比电容增加;当活化温度超过700℃后,样品的比电容会降低.以0.2 A/g的电流在0～1V充放电,活化温度为700℃时,样品(H700)比电容最高达230 F/g.当电流增加到20.0 A/g时,H700的比电容为175 F/g;在10 A/g下循环10 000次,H700的容量保持率为98.6％.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张世超	北京航空航天大学材料科学与工程学院	63	547	11.0	22.0
2	王利霞	郑州轻工业大学材料与化学工程学院	11	19	3.0	4.0
3	方华	郑州轻工业大学材料与化学工程学院	22	36	3.0	4.0
4	孟凡腾	郑州轻工业大学材料与化学工程学院	2	0	0.0	0.0