差分电容测量在微位移检测中的应用

• 作者: 李鹏程 王利恒
• 来源期刊: 自动化与仪表
• 关键词: 微位移检测 差分电容测量 STM32F103 PCap01 SPI通信
• 年，卷（期）: 2019,（10）
• 所属期刊栏目: 检测技术与数据处理
• 页码范围: 53-56,61
• 页数: 5页
• 分类号: TP216|TM934.2
• 语种: 中文
• DOI: 10.19557/j.cnki.1001-9944.2019.10.012

摘要

在工程领域常常需要对一些相对微小的位移尺度进行测量.针对微位移检测的问题提出基于PCap01的差分电容测量微位移检测系统.介绍了差分电容测量的原理以及系统的硬件、软件设计.该系统实现了差分电容的测量,电容值到微位移量的转换,将得到的实际值存储并显示.通过试验数据分析,验证了方案的可行性;该检测系统电容测量精度高达0.01 pF,实测微位移相对理论值最小误差仅0.13％,且实时性好,成本低.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王利恒	武汉工程大学电气信息学院	15	25	3.0	4.0
2	李鹏程	武汉工程大学电气信息学院	2	0	0.0	0.0