基于单片机控制的智能超声波测厚系统的设计

• 作者: 宋苏阳 张捷 张文远 茹国宝
• 来源期刊: 集成电路应用
• 关键词: 单片机控制 超声波 测厚 测速
• 年，卷（期）: 2019,（5）
• 所属期刊栏目: 创新应用
• 页码范围: 103-104
• 页数: 2页
• 字数: 1821字
• 语种: 中文
• DOI: 10.19339/j.issn.1674-2583.2019.05.040

摘要

设计了一套基于单片机控制的智能超声波测厚系统的实验电路.分析超声波测厚的基本原理,对系统的设计方案进行了论证,进而给出了该实验的考核要求与方法.实验表明,通过该实验,可全面掌握单片机原理及其应用方面的专业知识,解决现代科研开发过程中的实际问题.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	茹国宝	武汉大学电子信息学院	26	161	8.0	11.0
2	张捷		16	70	6.0	8.0
3	张文远	武汉大学电子信息学院	2	2	1.0	1.0
4	宋苏阳	华中科技大学光电学院	2	2	1.0	1.0