集成电路测试数据的分析与应用研究

• 作者: 张奇
• 来源期刊: 集成电路应用
• 学科: 工学
• 关键词: 集成电路测试 测试数据 分析与应用
• 年，卷（期）: 2019,（6）
• 所属期刊栏目: 工艺与制造
• 页码范围: 31-33
• 页数: 3页
• 分类号: TN407
• 字数: 3251字
• 语种: 中文
• DOI: 10.19339/j.issn.1674-2583.2019.06.010

摘要

随着集成电路技术的不断进步,集成电路器件在工业科技领域的应用不断增长.为保证集成电路企业输出质量上乘、品质优良的产品,对集成电路器件测试的要求也不断提高.通过对集成电路测试中测试数据、测试向量、测试结果等测试文件处理和分析研究,对于应用到集成电路设计、制造等关键环节具有十分重要的技术意义和经济意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张奇		3	5	2.0	2.0