典型电气元器件在含H2S环境中的腐蚀与防护

• 作者: 张其俊 易亚文 杨阳 邓勇 陈川 陈自然
• 来源期刊: 环境技术
• 学科: 工学
• 关键词: 电气元器件 H2S 微观形貌 腐蚀产物
• 年，卷（期）: 2019,（5）
• 所属期刊栏目: 环境适应性和可靠性
• 页码范围: 84-89
• 页数: 6页
• 分类号: TG172.3
• 字数: 3912字
• 语种: 中文

摘要

为找出电气元器件在使用一段时间后出现腐蚀现象的原因,研究典型电气元器件在含H2S环境中的腐蚀行为并提出防护措施.利用便携式多功能气体检测设备对电气元器件所在环境中H2S、SO2、NO2以及NH3等腐蚀性气体含量进行检测,并采用扫描电子显微镜(SEM)和能谱仪(EDS)手段分析电气元器件的腐蚀微观形貌及锈层中的腐蚀产物成分.电气元器件所处环境中存在腐蚀性气体H2S,电气元器件在使用环境中发生不同程度的腐蚀反应,出现发黑或失去光泽等现象,表面形的腐蚀产物中均出现S元素.电气元器件在该环境中发生腐蚀现象的主要因素是环境中H2S气体,建议采取整体净化服役环境中腐蚀性气体的防护措施,可减少或避免发生腐蚀反应.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	易亚文		10	17	3.0	4.0
2	陈自然		5	8	1.0	2.0
3	陈川		25	43	4.0	5.0
4	杨阳		4	0	0.0	0.0
5	张其俊		3	0	0.0	0.0
6	邓勇		2	0	0.0	0.0