万年历芯片DS1302功能测试方法研究

• 作者: 张春宇
• 来源期刊: 微处理机
• 学科: 工学
• 关键词: 二进码十进数 计算机辅助测试 串行外设接口
• 年，卷（期）: 2019,（5）
• 所属期刊栏目: 大规模集成电路设计、制造与应用
• 页码范围: 13-16
• 页数: 4页
• 分类号: TN47
• 字数: 2233字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-2279.2019.05.004

摘要

为完成集成电路芯片DS1302的功能测试工作,利用计算机辅助测试技术,搭建测试系统.系统硬件采用计算机、单片机、被控芯片三级相连结构,软件采用C#编写的上位机程序和C语言编写的下位机程序,两者之间按照约定的通讯协议进行交互,并计算机作为上位机,单片机作为下位机.待测试的被控芯片接收主控芯片的命令,返回信息给主控芯片.经过长期实测检验,证实该套测试系统能够缩短集成电路芯片DS1302的测试时间,提高测试准确度,达到了预期目的,且具有一定的可移植性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张春宇	中国电子科技集团公司第四十七研究所	7	7	1.0	2.0