ESD作用下晶闸管dV/dt触发导通规律研究

• 作者: 杨洁 王平平 王彪
• 来源期刊: 电波科学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 晶闸管(SCR) 静电放电(ESD) 非正常导通 阳极电压变化率 失效模式
• 年，卷（期）: 2019,（4）
• 所属期刊栏目: 论文
• 页码范围: 512-517
• 页数: 6页
• 分类号: TN784
• 字数: 2307字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13443/j.cjors.2018112902

摘要

针对电磁脉冲作用下晶闸管(silicon controlled rectifier,SCR)意外导通事故频发的问题,选择静电放电(electrostatic discharge,ESD)作为典型电磁脉冲源,对比分析了小电流SCR的ESD敏感度特性,确定了ESD作用下SCR的失效模式为门极电压作用失效、阴阳极断路.采用理论和试验相结合的方法得出了SCR意外导通的开启时间仅与阳极电压和器件本身特性有关的结论,并进一步通过方波电磁脉冲注入的对比试验,揭示了ESD作用下SCR因dV/dt触发导通的开启时间只与ESD注入电压有关:注入电压越高,开启时间越短.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王彪	陆军工程大学石家庄校区电磁环境效应国家级重点实验室	2	0	0.0	0.0
2	杨洁	陆军工程大学石家庄校区电磁环境效应国家级重点实验室	1	0	0.0	0.0
3	王平平	陆军工程大学石家庄校区电磁环境效应国家级重点实验室	1	0	0.0	0.0