Cu-Fe共掺杂TiO2电子结构与抗紫外线能力

• 作者: 刘春景 方文玉 赵军
• 来源期刊: 华中师范大学学报（自然科学版）
• 学科: 物理学
• 关键词: TiO2 电子结构 光学性质 抗紫外线能力
• 年，卷（期）: 2019,（4）
• 页码范围: 491-497
• 页数: 7页
• 分类号: O482
• 字数: 3971字
• 语种: 中文
• DOI: 10.19603/j.cnki.1000-1190.2019.04.006

摘要

采用了基于密度泛函理论(DFT)的第一性原理平面波超软赝势方法,计算了本征TiO2,Cu、Fe单掺杂及共掺杂TiO2电子结构和光学性质.计算结果表明:Cu掺杂属于p型掺杂,Fe掺杂均属于n型掺杂,掺杂能够提升TiO2的载流子浓度,改善其导电性.掺杂后,半导体的吸收边发生红移,且光学性质变化主要集中在低能量区域.Cu-Fe共掺杂时,掺杂体系同时拥有较大的吸收系数与反射率,且能够明显降低紫外线透射率,具有较好的抗紫外线效果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵军	湖北医药学院公共卫生与管理学院	9	54	4.0	7.0
2	方文玉	湖北医药学院公共卫生与管理学院	6	1	1.0	1.0
4	刘春景	湖北医药学院公共卫生与管理学院	3	0	0.0	0.0