一款消除浮空点并自锁存的老化预测传感器

• 作者: 孙侠 徐辉 汪海
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 传感器 老化预测 自锁存 浮空点 逻辑电路 负偏置温度不稳定性
• 年，卷（期）: 2019,（3）
• 所属期刊栏目: 半导体检测与设备
• 页码范围: 216-222
• 页数: 7页
• 分类号: TP212
• 语种: 中文
• DOI: 10.13290/j.cnki.bdtjs.2019.03.010

摘要

针对负偏置温度不稳定性引起的组合逻辑电路老化,提出了一款消除浮空点并自锁存的老化预测传感器.该传感器不仅可以预测组合逻辑电路老化,而且能够通过传感器内部的反馈来锁存检测结果,同时解决稳定性校验器在锁存期间的浮空点问题,其延时单元为可控型延时单元,可以控制其工作状态.使用HSPICE软件进行仿真,验证了老化预测传感器的可行性,可以适用于多种环境中且不会影响传感器性能.与同类型结构相比,该传感器的稳定性校验器能够对检测结果进行自锁存,使用的晶体管数量减少了约8％,平均功耗降低了约20％.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙侠	安徽理工大学数学与大数据学院	20	68	5.0	8.0
2	徐辉	安徽理工大学计算机科学与工程学院	38	54	4.0	6.0
3	汪海	安徽理工大学电气与信息工程学院	3	0	0.0	0.0