导电密封条贮存寿命评价试验方法研究

• 作者: 唐庆云 张钟文 林婷婷 王学孔 钟云龙
• 来源期刊: 橡胶工业
• 学科: 工学
• 关键词: 导电密封条 贮存寿命 试验评价 失效机理
• 年，卷（期）: 2019,（4）
• 所属期刊栏目: 测试·分析
• 页码范围: 311-313
• 页数: 3页
• 分类号: TQ336.4+2|TQ330.7
• 字数: 2288字
• 语种: 中文
• DOI: 10.12136/j.issn.1000-890X.2019.04.0311

摘要

分析导电密封条的贮存环境条件影响及失效机理,确定贮存期的典型环境条件,以老化失效机理作为分析对象,基于时间-温度叠加的加速寿命预测模型,以单一温度为加速试验条件,设计导电密封条成品贮存加速寿命试验方法,可在较短的时间内评价导电密封条的贮存寿命.导电密封条贮存10年的加速寿命试验条件确定为:温度100℃,相对湿度5％,试验时间28.3 d.