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摘要:
随着工艺进程的不断推进,逐次逼近型模数转换器(SAR ADC)的电容失配对整体电路的速度和精度影响越来越大.针对SAR ADC中电容失配的问题,提出一种基于亚稳态检测的SARADC电容失配校准算法,在不增加模拟电路时序复杂度的情况下,有效地解决了电容失配导致的SAR ADC精度不足问题.将该算法运用于12 bit 150 MS/s SAR ADC中,模拟结果表明,有效位数(Enob)可以达到11.93 bit,无杂散动态范围(SFDR)达到92.66dB.
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内容分析
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文献信息
篇名 基于亚稳态检测的SAR ADC电容失配校准算法
来源期刊 电子与封装 学科 工学
关键词 逐次逼近型模数转换器 亚稳态 电容失配
年,卷(期) 2019,(6) 所属期刊栏目 电路设计
研究方向 页码范围 16-19
页数 4页 分类号 TN402
字数 2548字 语种 中文
DOI 10.16257/j.cnki.1681-1070.2019.0605
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 唐鹤 12 11 2.0 2.0
2 彭传伟 1 2 1.0 1.0
3 何生生 2 2 1.0 1.0
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2020(2)
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研究主题发展历程
节点文献
逐次逼近型模数转换器
亚稳态
电容失配
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
月刊
1681-1070
32-1709/TN
大16开
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
2002
chi
出版文献量(篇)
3006
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24
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9543
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