存在故障的数字微流控芯片重构后测试

• 作者: 张玲 邝继顺
• 来源期刊: 计算机工程与科学
• 学科: 工学
• 关键词: 数字微流控芯片 故障后重构 并行测试
• 年，卷（期）: 2019,（3）
• 所属期刊栏目: 高性能计算
• 页码范围: 452-457
• 页数: 6页
• 分类号: TP306
• 字数: 4308字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-130X.2019.03.010

摘要

数字微流控芯片广泛用于生命科学领域,它对可靠性的要求很苛刻.由于数字微流控芯片的可重构性,在测试诊断的故障数小于一定比例时,电极阵列会被重构以撇开故障单元继续使用,而对于重构后的不规则电极单元,必须在使用前做强健完备的测试.首次提出对重构后的不规则电极单元进行并行测试:将重构电极阵列分为多个等大子阵列,每个子阵列分配1个测试液滴进行并行测试,目标为最小化测试时间.本文将测试时间最小化问题转化为分发池的分配问题,并为该NP完全问题建立ILP模型,计算最优测试时间.实验结果表明,该方法避免了重复诊断,最小化了故障后重构芯片的测试时间,获得了较好的测试效果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邝继顺	湖南大学信息科学与工程学院	82	418	11.0	16.0
2	张玲	湖北理工学院计算机学院	17	35	3.0	5.0