钼酸铵中硅检测现状研究

• 作者: 刘锦锐 加明 周春燕
• 来源期刊: 中国钼业
• 学科: 化学
• 关键词: 钼酸铵 钼蓝光度法 光谱法(直流电弧粉末法) ICP-OES法 ICP-MS法 GD-MS法 石墨炉原子吸收光谱法
• 年，卷（期）: 2019,（1）
• 所属期刊栏目: 钼化工
• 页码范围: 29-34
• 页数: 6页
• 分类号: O657.31
• 字数: 4304字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13384/j.cnki.cmi.1006-2602.2019.01.007

摘要

在钼酸铵生产过程中,硅作为杂质元素存在于产品中,对钼产品的后续加工产生重大影响.目前对钼酸铵中硅的检测方法有钼蓝光度法、光谱法(直流电弧粉末法)、ICP-OES法、ICP-MS法、GD-MS法、石墨炉法.本文综述了以上几种检测方法,分析了其优缺点,展望钼酸铵中硅检测技术的发展前景.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	加明		2	0	0.0	0.0
2	周春燕		2	0	0.0	0.0
3	刘锦锐		6	8	2.0	2.0