5G OTA测试挑战与测试方案

• 作者: 谷思佳
• 来源期刊: 信息通信技术与政策
• 关键词: 天线 波束赋形 OTA 远场 紧缩场 近场
• 年，卷（期）: 2019,（9）
• 所属期刊栏目: 罗德与施瓦茨技术专栏
• 页码范围: 90-94
• 页数: 5页
• 字数: 4307字
• 语种: 中文

摘要

5G采用多用户MIMO以及波束赋形技术提高系统容量.其中,MIMO与波束赋形技术需要基于大规模天线阵列实现.空口(OTA)测量技术是评估天线系统性能的重要手段,对于大规模阵列来说,OTA测试会介入到天线阵从研发到产线的各个阶段.常见的OTA系统可按场型分为远场、紧缩场和近场.罗德与施瓦茨公司能够提供包括暗室、仪表和自动化软件在内的全套解决方案.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谷思佳		1	0	0.0	0.0